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產品介紹
技術參數
產品優勢
缺陷圖例
晶硅電池隱裂檢測
主要用于硅片來料隱性裂紋等缺陷的檢測
產品型號：LP
solar
-SC100
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驗證
技術參數
產能
≥3600片/小時
最高檢測精度
150μm
設備有效時間
99%
破片率
<0.05%（傳輸剔除）
重復性
99.85%
電壓
220V AV
功率
≤1000W
產品優勢
一體化
隱裂碎片檢測模塊
全定制光學系統（售價更低，性能更好）
高效AI算法（算法時間100ms以內）
缺陷圖例
隱裂缺陷-1
隱裂缺陷-2
隱裂缺陷-3
隱裂缺陷-4
隱裂缺陷-5
隱裂缺陷-6
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